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Cassification
更新時間:2026-02-12
瀏覽次數:285FISCHERSCOPE X-RAY XAN215菲希爾X射線測厚儀是德國菲希爾 (Helmut Fischer) 推出的入門級經濟型 X 射線熒光測厚儀,專為珠寶、錢幣和貴金屬的無損成分分析與鍍層厚度測量設計,具備高性價比、操作簡便、精度可靠的特點,符合 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 標準。
FISCHERSCOPE X-RAY XAN215菲希爾X射線測厚儀核心定位與測量原理
核心定位:高性價比入門級 XRF 測厚儀,專注于貴金屬分析與鍍層測厚,特別適合金、銀等簡單合金
測量原理:采用能量色散 X 射線熒光光譜法 (EDXRF),基于基本參數法 (FP 法),無需標準片即可測量多種鍍層系統
無損檢測:非接觸式測量,不損傷樣品表面,適合高價值珠寶和精密零件

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