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菲希爾DualScope MP0膜厚儀資料X載 ----涂鍍層測厚儀DUALSCOPE® MP0—在鐵磁性及非鐵磁性金屬上簡便、高精度測量涂鍍層厚度的理想選擇

Helmut Fischer膜厚儀探頭怎么選介紹： 鍍層/底材的種類是選擇探頭重要的依據。另外，鍍層的大致厚度、底材的材料、測量點的面積以及樣品的形狀和表面情況都是選擇探頭時需要考慮的因素。

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MPO涂層測厚儀 DUALSCOPE MP0R USB 采用根據DIN EN ISO 2360，ASTM B244標準的電渦流方法和DIN EN ISO 2178，ASTM B499電磁感應方法，被用來測量非導電涂層在非鐵金屬基材上的厚度以及非鐵金屬鍍層和非導電涂層在鐵或鋼上的厚度。

多層鎳測厚儀品牌--Couloscope CMS2 STEP 庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。 這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量，現在也適用于監控印刷線路板剩余純錫的厚度。

菲希爾膜厚測試儀DualScope MPOR操作說明 DUALSCOPE® MPOR USB涂層測厚儀采用根據DIN EN ISO 2360，ASTM B244標準的電渦流方法和DIN EN ISO 2178，ASTM B499電磁感應方法

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