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更新時間:2025-09-02
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| 德國BYK 4440/4442/4444/4446/4450/4452/4454光澤度儀 產地:德國 |
光澤是評估一個表面時得到的視覺印象。直接反射的光越多,光澤的感覺越明顯。光澤儀及其操作規程必須標準化以便比較測量結果。照明入射角對結果的影響較大。為了清楚地區分從高光澤到低光澤的整個測量范圍,定義了3個不同的角度(光路),即3個不同的 光澤儀測量范圍. 微型光澤儀系列 便攜式光澤儀適合于任何應用:無論是特定的應用還是從高到低光澤樣品的綜合測量,BYK-Gardner公司可提供全套的便攜式光澤儀,微型光澤儀系列。其*的性能和優勢使其成為光澤測量的工業標準。 |
型號 | 名稱 | 光路 | 應用范圍 | 測量孔徑 | 測量范圍 | 重復性 | 重現性 |
AG-4440 | 微型光澤計20° | 20° | 高光澤 | 參閱單光路 | 0-2000GU | 0.5GU | 1GU |
AG-4442 | 微型光澤計60° | 60° | 中光澤 | 12x30mm | 0-2000GU | 0.5GU | 1GU |
AG-4444 | 微型光澤計85° | 85° | 低光澤 | 參閱單光路 | 0-2000GU | 0.5GU | 1GU |
AG-4446 | 微型多角度光澤計20/60/85° | 20/60/85° | 各種光澤 | 12x60mm | 0-2000GU | 0.5GU | 1GU |
AG-4554 | 微型光澤計45° | 45° | 薄膜/陶瓷 | 參閱單光路 | 0-2000GU | 0.5GU | 1GU |
AG-4556 | 微型光澤計75° | 75° | 紙張/塑料 | 參閱單光路 | 0-2000GU | 0.5GU | 1GU |
AG-4435 | 微型三角度光澤儀(帶膜厚測量) | 20/60/80°
| 磁性及非磁性,測量范圍:0-500微米 | 參閱單光路 | 20°:0-2000GU 60°:0-1000GU 80°:0-160GU | 1% | 2% |
特點:小巧、方便使用自動校準-隨時可測量,按一下即可校準,菜單指導操作,測量結果無人為誤差單次測量和統計模式,后者包括測量次數、平均值和標準偏差記憶量大:999個讀數RS232接口可傳送數據到個人電腦或打印機電池壽命長 ,多可達3000個讀數符合DIN標準,可追溯至BAM和NRC標準:ASTM D 523 D 2457ISO 2813 7668DIN 67530JIS Z 8741


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